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ISO 3034瓦楞紙板厚度測定儀 箔片測厚儀

簡要描述:ISO 3034瓦楞紙板厚度測定儀 箔片測厚儀——C640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀,專業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續多點測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-11-21
  • 訪  問  量:62

詳細介紹

品牌Labthink/蘭光產地類別國產
應用領域化工,包裝/造紙/印刷,紡織/印染,煙草,制藥/生物制藥

ISO 3034瓦楞紙板厚度測定儀 箔片測厚儀——C640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀,專業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續多點測量。

測試原理:

將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。

執行標準:

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中國《藥品生產質量管理規范》(GMP)對軟件的有關要求(可選配置)

ISO 3034瓦楞紙板厚度測定儀 箔片測厚儀

應用材料:

基礎應用:

薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定

紙——各種紙張、紙板、復合紙板等的厚度測定

擴展應用:

金屬片、硅片——硅片、箔片、各種金屬片等的厚度測定

瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定

紡織材料——各類紡織材料如編織織物、針織物、涂層織物等的厚度測定

非織造布——各類非織造布如尿不濕、衛生巾、醫用口罩等的厚度測定

其它材料——固體電絕緣材料、膠黏帶、土工合成材料、橡膠等的厚度測定

ISO 3034瓦楞紙板厚度測定儀 箔片測厚儀技術指標:

① C640M型號參數:

測試范圍:0~2mm(標配);0~6、0~12mm(選配)

分辨率:0.1μm

重復性:0.8μm

測量間距:0~1000mm(可設定)

進樣速度:1.5~80mm/s(可設定)

附加功能:

自動進樣機:可選配置

DataShield數據盾:可選配置

GMP計算機系統要求:可選配置

測量方式:機械接觸式

測量壓力及接觸面積:

薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2

紙張:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2

電源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

凈重:26kg

② C640H型號參數:

測試范圍:0~2mm(標配);0~6、0~12mm(選配)

分辨率:0.1μm

重復性:0.4μm

測量間距:0~1000mm(可設定)

進樣速度:1.5~80mm/s(可設定)

附加功能:

自動進樣機:可選配置

DataShield數據盾:可選配置

GMP計算機系統要求:可選配置

測量方式:機械接觸式

測量壓力及接觸面積:薄膜17.5±1 kPa、50 mm2;

紙張100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2

電源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

凈重:26kg



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